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芯硅谷 数显测厚表
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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白光干涉三维光学轮廓仪
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德国应用光谱白光干涉膜厚仪
发射信号可连接到几乎每个真空室无需维护舒适和易于使用的PEM—ProVis专业版软件用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试
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中图白光干涉三维轮廓仪
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
部分-无需重复校准-无需维护可连接到标准USB2.0(USB3.0)或选择连到以太网/局域网可用程序库开发特殊的应用 应用领域用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
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